Question 1

Quais projetos podem ser testados pelo KC?

Accepted Answer

Morfologia 3D, comprimento/ângulo/raio/distância do centro, profundidade/passo, contorno, rugosidade (Ra/Rz/Sa/Sz), planicidade, volume/área, detecção de defeitos, geração automática de relatórios. Suporta análise paralela de múltiplos dispositivos, permitindo a digitalização e o processamento simultâneos, dobrando a eficiência.

Question 2

Quais amostras podem ser testadas pelo KC?

Accepted Answer

Metais, grafite, wafers, placas de circuito impresso de vidro, pastilhas de cobre, estruturas gravadas, eletrodos de bateria, peças submetidas a tratamento de projeção, superfícies de fratura, materiais transparentes, materiais porosos e materiais macios podem ser testados. Agende uma consulta para necessidades de teste específicas e testes de amostras para verificar os resultados.

Question 3

Qual é a diferença entre o KC e os microscópios e perfilômetros convencionais?

Accepted Answer

Os microscópios convencionais só podem observar; o perfilômetro pode riscar a amostra; o KC-X3000 é um sistema de medição completo para análise de morfologia 3D, tamanho, rugosidade e planicidade, sem contato, com precisão em nível de nanômetro e sem danificar a amostra.

Question 4

O que é o KC-X3000?

Accepted Answer

O KC-X3000 é um microscópio de medição de precisão "três em um" desenvolvido pela Kathmatic, que integra a digitalização de morfologia, a observação com profundidade de campo ultra ampla e a medição combinada. Utiliza a tecnologia confocal espectral para realizar medições de microscopia 3D de alta precisão e sem contato.

Question 5

O microscópio de medição de precisão "três em um" KC-X3000, a que funções específicas se refere a expressão "três em um"?

Accepted Answer

O dispositivo integra três funções principais: digitalização de morfologia, observação com profundidade de campo ultra ampla e medição combinada. Um único dispositivo pode substituir os perfilômetros 3D tradicionais, os microscópios com profundidade de campo ultra ampla e os instrumentos de medição de contorno, permitindo operações integradas de observação, digitalização e medição.

Question 6

Qual é o princípio de medição fundamental utilizado neste dispositivo KC? Quais são as vantagens?

Accepted Answer

Equipado com tecnologia confocal de espectroscopia a laser e um módulo de imagem de 12 milhões de pixels, não é afetado pelo material da amostra, pela refletividade ou pela inclinação da superfície, e pode capturar com precisão informações de micro altura, permitindo testes não destrutivos, de alta precisão e sem contato.

Question 7

Em quais setores os dispositivos KC são principalmente utilizados?

Accepted Answer

Amplamente utilizados nos setores de semicondutores, baterias de lítio, energia fotovoltaica, eletrônicos 3C, aeroespacial, usinagem de precisão, pesquisa e desenvolvimento de novos materiais, pesquisa científica universitária e outros campos, adequados tanto para inspeção de qualidade industrial quanto para cenários de pesquisa acadêmica.

Question 8

A imagem do KC pode superexpor amostras como metais altamente reflexivos e wafers de silício?

Accepted Answer

Não. O equipamento é equipado com fontes de luz controláveis nas zonas de cor vermelha, verde e azul, suportando o ajuste independente de brilho dos anéis interno e externo, o que pode suprimir efetivamente o forte reflexo da luz. Wafers e peças metálicas altamente reflexivas também podem ser imagens com clareza.

Question 9

É possível testar materiais transparentes e amostras de filmes finos com o KC?

Accepted Answer

Sim. A tecnologia confocal espectral pode ser adaptada a materiais transparentes e semi-transparentes, e pode identificar com precisão a morfologia da superfície e a altura do passo do filme.

Especificações do produto

modelo de lente a laser

faixa de lente a laser/μm

resolução do eixo z/nm

Perfil do produto

Costumização

Tipo de produto

Aplicação

N ° de Modelo.

Função de medição

Modo de controlo

Método de medição

Tipo de fonte de luz

serviço pós-venda

garantia

focar na faixa de movimento do eixo z

modo de condução do eixo z de foco

medindo a resolução da câmera

medindo a máxima fps da câmera

cpu

memória interna

armazenar

resolução do ecrã

tamanho do ecrã

temperatura ambiente de funcionamento

humidade ambiente

Pacote de Transporte

Especificação

Marca Registrada

Origem

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